蔡司光學三坐標測量儀的優(yōu)勢

　　蔡司光學三坐標測量儀的優(yōu)勢顯而易見，如果部件特別小、形狀復雜、容易變形或刮擦.它們最需要的是非接觸的質量保證。蔡司光學三坐標測量儀能配備可變照明、高分辨率相機及先進的軟件，為客戶提供快速準確的測量數(shù)據(jù)。從純光學設備擴展到多傳感器解決方案，您可以實現(xiàn)在同一臺設備上通過光學及接觸式技術進行檢測。

　　ZEInavigator領航者技術，具有主動掃描功能，測量精度小于微米。特別是對于小而復雜、具有小公差范圍的零件來說，例如光學和電子產(chǎn)品中的零件，ZEISSSS MICURA解決方案的開發(fā)，專門針對工業(yè)生產(chǎn)中零部件加工變得越來越緊湊，而精度要求不斷提高的新需。ZEISS MICURA配備了蔡司的VAST XT gold高端傳感器和 MICURA顯示出強大的功能。除了尺寸緊湊之外，該系統(tǒng)可測量的體積達到500*500*500毫米，因此遠遠超過同類儀器。

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　　蔡司的XAST XT gold具有極高掃描速度，每秒的測量點高達200個。因此，除了快速獲得幾何特征之外，還可以在短時間內(nèi)精確捕獲形狀和位置參數(shù)，例如圓度和平面度。該傳感器可以配備極小的探針，而最小探針的直徑只有0.3毫米。

　　輕松捕捉 無需觸碰

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　　ZEISS O-DETECT

　　蔡司ZEISS O-DETECT配置500萬像素的全景相機作為標準組件，可以更快定位需要測量的部件并創(chuàng)建圖像。根據(jù)ISO-10360校準至MPEE(3D)，在提供精準的2D和3D范圍數(shù)據(jù)的同時，還保證了可靠性并實現(xiàn)了全球范圍的可比性。配備的ZAPHIRE軟件不僅能保證對光學采集的數(shù)據(jù)進行精確分析.還能實現(xiàn)良好的用戶體驗，僅需2天培訓即可操作。

　　比以往更快的光學體驗

　　ZEISS O-INSPECT

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　　蔡司ZEISS O-INSPECT復合式測量機使您能以理想的方式通過光學或接觸式測量到每一個特征，其在2D、3D方面皆符合ISO-10360驗收標準。更新的軟件解決方案，使得測量速度提升6倍，不僅便于試用，還為客戶節(jié)省了額外費用。